Программа спецкурса "Электронная микроскопия и микроанализ"



Скачать 20.63 Kb.
Дата26.07.2014
Размер20.63 Kb.
ТипПрограмма спецкурса
Программа спецкурса “Электронная микроскопия и микроанализ”

5 курс, 523 группа, осенний семестр



лектор – ст. науч. сотр. Лукьянов А.Е.


  1. Электронная оптика. Корпускулярные пучки. Электростатические и магнитные линзы, их фокусные расстояния. Главные плоскости и узловые точки. Аберрации. Электронные пушки микроскопов. Типы электронных микроскопов (просвечивающий, растровый, эмиссионный и зеркальный), области их применения.

  2. Просвечивающий электронный микроскоп. Рассеяние электронов на атоме и идеальном кристалле. Законы Лауэ и Вульфа-Брегга. Обратная решетка, сфера Эвальда, влияние формы кристалла. Влияние толщины кристалла. Типы электронограмм. Теория Аббе формирования изображения, разрешение. Режим микродифракции. Контраст изображения кристаллов. Фазовая электронная микроскопия. Частотно-контрастная характеристика микроскопа. Сверхвысоковольтная микроскопия. Наблюдение динамических процессов.

  3. Растровый электронный микроскоп. Особенности работы растрового электронного микроскопа, поточечное построение изображения. Неупругие взаимодействия электронов с объектом, вызываемые ими вторичные процессы и их свойства: вторичная электронная эмиссия, генерация рентгеновского излучения, тепловое воздействие на объект, термо- и акустические волны. Особенности взаимодействия электронов с полупроводниками и диэлектриками. Неравновесные носители заряда, их движение и рекомбинация. Катодолюминесценция. Разделение неравновесных носителей заряда на электрических барьерах. Возможность одновременного получения многообразной информации. Соотношение сигнал/шум в тракте передачи информации микроскопа. Оценка размера электронного зонда и разрешения. Информативность вторичной электронной эмиссии, контраст и разрешение в режимах регистрации мeдлeнных вторичных электронов, отраженных электронов и оже-электронов. Рентгеновский микроанализ элементного состава, локальность анализа. Два метода микроанализа с дисперсией по длинам волн и по энергии рентгеновских квантов, их достоинства и недостатки. Детекторы рентгеновского излучения в электронной микроскопии. Информативность методов, связанных с регистрацией сигналов от неравновесных элeктронно-дырочных пар. Определение локальных электрофизических параметров полупроводника. Микрокатодолюминесценция и разрешение в этом режиме.

  4. Сканирующая зондовая микроскопия. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Сканирующая туннельная микроскопия. Атомно-силовая микроскопия. Магнитно-силовая микроскопия. Оптическая микроскопия ближнего поля. Разрешение и информативность в каждом случае.


Литература:

  1. Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии. М.: Мир, 1966.

  2. Хирш П., Хови. и др. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М.: Мир, 1968.

  3. Гоулдстейн Дж. и Яковиц Х. Практическая растровая электронная микроскопия. М.
    : Мир, 1978.

  4. Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984, книги 1,2.

  5. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Техносфера, 2004.

Похожие:

Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconЭлектронная и туннельная микроскопия
...
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" icon«Электронная и туннельная микроскопия»

Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" icon«Электронная и туннельная микроскопия»

Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconПрограмма спецкурса продолжительность спецкурса 40 часов
Цель спецкурса углубить знания и практические навыки слушателей в области методики финансового анализа и ее применения в финансовом...
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconПрограмм а ХХ российской конференции
Электронная микроскопия и спектрометрия одностенных углеродных нанотрубок, заполненных молекулами С60 и С70
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconПрограмма спецкурса по алгебре «Электронная математика» 7 класс Авторы программы
...
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconСканирующая электронная микроскопия для биологических объектов
Предложен способ регистрации зондом сканирующего туннельного микроскопа вторичных электронов в растровом электронном микроскопе
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconПрограмма спецкурса «Математические основы информатик и»
Рабочая программа спецкурса «Математические основы информатики» для 8-9 классов разработана на основе примерной программа основного...
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconСовременная электронная микроскопия
Разрешающая способность человеческого глаза около 100 микрометров (0,1 мм), что примерно соответствует толщине волоска. Чтобы увидеть...
Программа спецкурса \"Электронная микроскопия и микроанализ\" iconПрограмма спецкурса "Древнерусская книжность и духовная культура"
Тема Введение в проблематику спецкурса. Общие замечания о древнерусской письменности. Книга как феномен средневековой культуры
Разместите кнопку на своём сайте:
ru.convdocs.org


База данных защищена авторским правом ©ru.convdocs.org 2016
обратиться к администрации
ru.convdocs.org